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台式PID（Potential Induced Degradation）潜在诱导退化测试仪，用于c-Si太阳能电池和光伏迷你组件的售前和安装后质量检测。

晶圆片晶锭寿命检测仪用于常规质量控制、精密材料研发的单晶和多晶片及晶锭的寿命测量

灵活的OEM设备，用于多种不同样品的在线寿命测量：从单晶硅到多晶硅锭，从生成态晶圆片到不同镀层或金属化晶圆的过程控制。标准软件接口，易于连接到许多处理或自动化系统。

晶圆片在线面扫检测仪是一种用于快速定量测量载流子寿命并集成扫描功能的检测仪。通过工厂安装的传送带将晶圆片移至仪器，在不到一秒的时间内，就可以“动态”测量出晶圆图。